English version

Formularz logowania

zarejestruj się


Drukuj

M. Żenkiewicz, J. Gołębiewski


Zastosowanie metody spektroskopii fotoelektronowej w badaniach profilu wgłębnego folii polipropylenowej

Polimery 1999, nr 4, 246


DOI:dx.doi.org/10.14314/polimery.1999.246


Streszczenie

Scharakteryzowano podstawy fizyczne spektroskopii fotoelektronowej oraz zakres jej zastosowań.Opisano związek miedzy energią wiązania elektronów a przesunięciem chemicznym. Przedstawiono budowę spektrometru fotoelektronowego oraz jego głównych podzespołów, wskazując przy tym na znaczenie wysokiej próżni jaka musi być utrzymywana w spektrometrze podczas badań. Omówiono wyniki badań własnych dotyczących profilu wgłębnego warstwy wierzchniej aktywowanej folii polipropylenowej. Z badań tych wynika, że głębokość utleniania trzech badanych rodzajów folii wynosi kilkanaście nanometrów (tabela 5). Stopień utlenienia warstwy wierzchniej wzrasta wraz z jednostkową energią wyładowań niezupełnych i w warunkach jej wartości 75 000J/m2 osiąga poziom 20 % (rys. 8). Stwierdzono całkowitą zgodność wyników uzyskiwanych z zastosowaniem metody wg [25] i [26].
Słowa kluczowe: spektroskopiafotoelektronowa, podstawy fizyczne , aparatura, aktywowana foliapolipropylenowa, stopień utleniania warstwy wierzchniej
Zainteresowanych dostępem do pełnej wersji artykułu prosimy o kontakt z redakcją polimery@ichp.pl