English version

Formularz logowania

zarejestruj się


Drukuj

M. Śniechowski, T. Kozik, W. Łużny

Wpływ rozpuszczalnika na anizotropię cienkich warstw polianiliny (j.ang.)

Polimery 2017, nr 11-12, 855


DOI: dx.doi.org/10.14314/polimery.2017.855

Streszczenie
Cienkowarstwowe, wykazujące silną anizotropię próbki polianilina/kwas kamforosulfonowy (PANI/CSA) zbadano metodą dyfrakcji powierzchniowej promieniowania rentgenowskiego. Wyniki pomiarów w geometriach: transmisyjnej, odbiciowej i pośrednich wykazały różnice między natężeniami pięciu głównych maksimów krystalicznych. Anizotropia próbek była różna w wypadku użycia różnych rozpuszczalników (m-cresol, kwas trifluorooctowy). Niedawno opublikowany model struktury PANI/CSA wykorzystano do obliczenia map natężeń, a następnie do porównań z wynikami pomiarów. Proponowany model poprawnie opisuje uporządkowanie w próbkach folii z PANI/CSA wylanych z różnych rozpuszczalników, bez konieczności uwzględniania w nim cząsteczek rozpuszczalnika. Świadczy to o tym, że cząsteczki rozpuszczalnika nie występują w strukturze PANI/CSA jako składniki komórki elementarnej.
Słowa kluczowe: polianilina, dyfrakcja powierzchniowa, symulacje, anizotropia cienkich warstw, rozpuszczalnik
e-mail: Maciej.Sniechowski@fis.agh.edu.pl
M. Śniechowski, T. Kozik, W. Łużny (1.87 MB)
Wpływ rozpuszczalnika na anizotropię cienkich warstw polianiliny (j.ang.)